H12綜合型手動探針臺

產(chǎn)品概要

H12探針臺具有優(yōu)異的機械性能和的測試功能，其卡盤移動技術，可滿足客戶對整片晶圓高效測試的需求；同時基于UPStart?模塊化開放式設計，H系列可搭配不同的套件實現(xiàn)更寬泛的測試功能，H系列6" 8" 12"探針臺非常適合研發(fā)類實驗室的一次性預算購置。

基本信息

應用方向

DC 直流/（IV、CV）測試、低電流（100fA 級）測試、1/f 噪聲測試、FA 失效分析測試、器件表征測試、WLR 可靠性、老化測試、RF 射頻測試、大功率/大電流及/大電壓測試等。

技術特點

>氣控式卡盤移動技術（Chuck Air bearing move)

氣控式移動平臺具備快速移動卡盤功能，滿足高效手動測試需要。通過對應的氣浮開關，提供3種快速移動方式：單手控制X/Y方向快速移動，雙手控制樣品臺全平面快速移動。傳統(tǒng)的滾珠/軸承式樣品臺僅能實現(xiàn)X/Y軸單向運動，而且移動速度較慢；普通的氣浮式樣品臺雖然能夠實現(xiàn)樣品臺全平面快速移動，卻不能實現(xiàn)X/Y軸單向精準移動定位，滿足生產(chǎn)實測需要。而3重氣控式樣品臺完美的結合并實現(xiàn)了以上兩種功能。

>大手柄微分頭驅動

卡盤移動平臺配有粗調與精調功能，相比于傳統(tǒng)的小型微分頭調節(jié)，操作手感更舒適、調節(jié)更順暢且無回程差，真正實現(xiàn)超順滑的手動高效測試，全面提升測試效率，節(jié)約客戶測試成本。

>顯微鏡氣控式升降調節(jié)

顯微鏡采用氣控式調節(jié)可實現(xiàn)50mm升降，通過高品質閥門控制，高壓空氣進出節(jié)流精細調節(jié)，實現(xiàn)顯微鏡平穩(wěn)的升降，實現(xiàn)方便更換物鏡的同時，更好的防護物鏡與夾具在測試中的意外接觸損傷。

> 三段式升降針座平臺

針座平臺升降：快速（0，300um,3mm）+微調(40mm,移動分辨率2~5um)，Platen所有部分能夠同時升降（不存在不同時的現(xiàn)象），升起回落后探針在pad上針痕的x,y,z三個方向的重復性優(yōu)于±1um，可重復（1μm）的針座平臺有三個離散位置，用于接觸，分離（300μm）和裝載（3mm），并帶有安全鎖裝置，可防止探頭或晶圓意外損壞的同時，提供直觀的控制和準確的接觸定位。

> 可加載激光器

多波段激光切割系統(tǒng)能夠加載在絕大多數(shù)應用于失效分析的顯微鏡上，可以實現(xiàn)微觀層面的精確切割和選擇性材質去除。精密可靠的先進激光傳輸系統(tǒng)(ABDS)可以選擇不同波段應對不同材料裁剪和切割工作。鐳射最大輸出能量≥2.7mJ,能量可調整級數(shù)≥300。水循環(huán)冷卻結構使系統(tǒng)更小巧和無需維護。