FA8失效分析探針臺(tái)是專為失效分析實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的一款量測(cè)設(shè)備,具光學(xué)特性、激光特性,設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,系統(tǒng)性能優(yōu)異,人體工程學(xué)設(shè)計(jì),操作便捷,支持多功能升級(jí),產(chǎn)品功能豐富齊全
FA8失效分析探針臺(tái)
產(chǎn)品概要
FA8失效分析探針臺(tái)是專為失效分析實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)的一款量測(cè)設(shè)備,具光學(xué)特性、激光特性,設(shè)備結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,系統(tǒng)性能優(yōu)異,人體工程學(xué)設(shè)計(jì),操作便捷,支持多功能升級(jí),產(chǎn)品功能豐富齊全。
產(chǎn)品型號(hào) | FA8 | 工作環(huán)境 | 開(kāi)放式 |
電力需求 | 220VC,50~60Hz | 操控方式 | 手動(dòng)探針臺(tái) |
產(chǎn)品尺寸 | 960mm長(zhǎng)*850mm寬*1500mm高 | 設(shè)備重量 | 約260KG |
常溫和高低溫環(huán)境下的芯片失效分析、射頻特性器件失效分析、材料/器件的IV/CV特性測(cè)試及失效分析、芯片內(nèi)部線路/電極/PAD測(cè)試、IC/面板內(nèi)部線路修改/去層